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[单选题]

关于双芯片上芯产品的上芯控制要求,以下哪些说法是正确的()

A.优先加工导电胶芯片

B.随便可以加工

C.一次上芯后可以不烘烤上二次

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第1题
关于双芯片上芯产品的上芯控制要求,以下()说法是正确的。

A.双芯片上芯产品,一次上芯应先加工导电胶粘片的产品

B.一次上芯后,应进行烘烤后,方可进行二次上芯

C.二次上芯产品烘烤后,可以放置在生产现场的货架上,不必要放在氮气柜中

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第2题
关于上芯防混批作业的相关控制要求,以下哪些说法是正确的()

A.在产品固化时,产品在进出烘箱前后,对流程卡上框号及实际产品框号要核对一致

B.作业员在加工完一批产品后,检查设备轨道内

C.设备小货架上该批产品全部留走后方可加工下批产品

D.设备加工完的产品已经移动必须在流程卡上填写盒号,每台设备不允许超过二盒产品未填写盒号

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第3题
关于上芯顶针痕迹监控项目,描述错误的有:()。

A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批

B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时,如果顶针痕迹不清晰,未造成明显的不良,则判定为合格

C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时,如有顶针印记,则判断为不良

D.在监控顶针痕迹时,必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控,不允许使用镊子从兰膜上直接夹取

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第4题
上芯机生产的产品单个空洞面积()芯片面积为不良,合计空洞面积芯片面积为不良。

A.>3%

B.>5%

C.>3%

D.>10%

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第5题
我司实施SPC的控制点及控制项目有划片工序刀痕宽度;切筋工序管脚共面性以及()。

A.上芯工序芯片剪切力

B.压焊工序焊丝拉力

C.焊球推力

D.电镀工序镀层厚度

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第6题
以下属于上芯零容忍项目的是()

A.首检不到位

B.未使用托板

C.80度以上取产品

D.私自倒料盒

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第7题
一片晶圆加工完后,作业员在晶圆上芯数统计表中,记录(),并核对与晶圆。中测单上数目是否一致。

A.晶圆上的芯片数量

B.晶圆实际加工芯片数

C.晶圆批号

D.晶圆片号

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第8题
阀芯可以做成不同的形状,从而获得不同的特性,流线形的阀芯受冲击力小,可分为上、下双导向和单上导向,这种结构的阀芯是()。

A.柱塞型阀芯

B.窗口型阀芯

C.多级阀芯

D.套筒阀阀芯

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第9题
关于“中华人民共和国成立70周年”普通纪念币防伪特征,不正确的表述是()。

A.硬币内芯采用了镍带复合白铜材料

B.在背面面额10元”两侧果实上刻有“J”“G”缩微文字

C.产品下方采用了隐形图文“10元”字样

D.产品边部采用了斜全齿间隔半齿

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第10题
关于“中华人民共和国成立70周年”普通纪念币防伪特征,不正确的表述是()。

A.硬币内芯采用了镍带复合白铜材料

B.在背面面额“10元”两侧果实上雕刻有“J”“G”微缩文字

C.产品下方采用了隐形图文“10元”字样

D.产品边部采用了斜全齿间隔半齿

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